Kim K.M., Dixon I.R., Walsh R.P., Lu J., Bai H., Wright A., Voran A.J., Marshall W.S., Bosque E., Buchholz K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, tapes, coils pancake, joints, solder, fabrication, joint resistances, test results
Caspi S., Ferracin P., Gourlay S., Wang X., Jiang J., Pong I., Lu J., Marchevsky M., Arbelaez D., Shen T., Prestemon S., Brouwer L., Turqueti M., Hafalia A., Myers C., Bosque E., Fajardo L.G., Teyber R., Fernandez J.L., Davis 3.D., Trociewitz 3.U., Hellstrom 3.E.
Caspi S., Gourlay S., Wang X., Martchevskii M., Pong I., Arbelaez D., Shen T., Prestemon S., Brouwer L., Hafalia A., Myers C., Bosque E., English L., Fajardo L.G.
Ключевые слова: Bi2212/Ag, Bi2212/AgMg, wires, insulation coating, fabrication, heat treatment, overpressure processing, microstructure
Gourlay S., Miao H., Larbalestier D., Jiang J., Huang Y., Hellstrom E., Trociewitz U., Parrell J., Shen T., Prestemon S., White M., Davis D., Turqueti M., Hunt A., Bosque E., Higley H., Zhang M.W.
Caspi S., Shen T., Prestemon S., Brouwer L., Hafalia A., Bosque E., Fajardo L.G., English C., Hernikl C.
Lu J., Levitan J., Lee P., Cooley L., Larbalestier D.C., Kim Y., Trociewitz U.P., Bosque E.S., Davis D., English L., Hellstrom E., Jiang J., Kametani F., Martin E., Jones J., Juliao A., Bradford G., Barua S., Hossain I., Oz Y., Miller G., Gillman J.
Bosque E., U.Trociewitz, Y.Kim, D.Davis, C.English, G.Miller, E.Martin, J.Jones, E.Hellstrom, D.Larbalestier
Bosque E., U.Trociewitz, Y.Kim, D.Davis, C.English, G.Miller, E.Martin, J.Jones, E.Hellstrom, D.Larbalestier, J.Gillman
Gourlay S., Kim Y., Larbalestier D., Jiang J., Ye L., Zhang K., Hellstrom E., Trociewitz U., Lu J., Shen T., Prestemon S., Bosque E., Higley H., English C.
Ключевые слова: HTS, Bi2212, Rutherford cables, coils racetrack, overpressure processing, control systems, quench current, design, design parameters, fabrication, test results
Larbalestier D.C., Kim Y., Chen P., Hellstrom E.E., Jiang J., Trociewitz U.P., Starch W.L., HILTON D.K., Abraimov D.V., Davis D.S., Bosque E.S.
Larbalestier D.C., Otto A., Kim Y., Hellstrom E.E., Jiang J., Trociewitz U., Walsh R.P., McRae D., Bosque E., Brown M.
Ключевые слова: HTS, Bi2212, wires, tensile tests, stress effects, strain effects, stress distribution, reinforcement, measurement setup, modeling, experimental results
Hahn S., Kim Y., Larbalestier D., Chen P., Jiang J., Hellstrom E., Kametani F., Trociewitz U., Lu J., Griffin V., Hilton D., Starch W., Davis D., Matras M., Francis A., Boebinger M., Bosque E., Constantinescu A., English L., Oz Y.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.